在本文中，我們將描述一些非線性精密電阻器樣式，這意味著它們不遵循歐姆定律。簡(jiǎn)單地說(shuō)，電阻材料由摻雜的顆?；衔锝M成，其中含有各種氧化物，這些氧化物通過(guò)粘合劑被壓制成所需的形狀，然后燒結(jié)。端子要么插入電阻體中，要么焊接到金屬化表面。有多種封裝類(lèi)型。NTC 熱敏電阻以棒狀、圓盤(pán)狀、涂有漆、環(huán)氧樹(shù)脂、釉料或熔融玻璃的珠子以及 SMD 的形式存在。

失效模式

熱敏電阻通常具有非常小的尺寸和高電阻值。他們對(duì)材料中的每一個(gè)“干擾”都很敏感。主體的暴露部分是端子區(qū)域，特別是對(duì)于小尺寸。如果主體沒(méi)有以在進(jìn)入熱敏電阻主體之前機(jī)械卸載任何引線彎曲的方式封裝，則很容易在引線入口周?chē)a(chǎn)生小裂縫。有了這些裂縫，電阻就會(huì)發(fā)生變化；還有一種方法可以讓水分和液體滲入身體。

上釉的珠子和帶有直接焊接在金屬焊盤(pán)頂部的端子的未涂層圓盤(pán)是易受攻擊的設(shè)計(jì)示例。不建議在導(dǎo)電液體和腐蝕性氣體中使用未涂層的圓盤(pán)熱敏電阻。燒結(jié)材料有時(shí)會(huì)在晶體結(jié)構(gòu)中發(fā)生沉降。此類(lèi)事件表現(xiàn)為 3% 至 10% 的突然電阻變化，并且可能因熱量、溫度變化和機(jī)械沖擊而釋放。未經(jīng)處理的交貨批次的故障率在 30% 到 60% 之間變化。固化是一種老化過(guò)程，通常作為熱處理進(jìn)行。

封裝在熔化玻璃體中的珠狀熱敏電阻通常具有小尺寸和相應(yīng)的細(xì)引線，由通常難以焊接的合金組成。在這種情況下，用于點(diǎn)焊的引線可能是少數(shù)的解決方案。警告。切勿嘗試并聯(lián) NTC 熱敏電阻以增加功率耗散能力。暫時(shí)具有*低電阻的熱敏電阻將獲得更高的電流負(fù)載，更強(qiáng)的自發(fā)熱，更大的電阻下降，更高的電流負(fù)載等，直到雪崩效應(yīng)將組件破壞。

可靠性

目前 NTC 熱敏電阻的可靠性被認(rèn)為是良好的。這尤其取決于具有基于統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制 (SPC) 的制造程序和經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的類(lèi)型資格的嚴(yán)肅制造商。如果我們確定這些元件經(jīng)過(guò)老化處理，并且如果我們購(gòu)買(mǎi)它們帶有氣密密封，即玻璃或玻璃/金屬外殼，則此類(lèi)熱敏電阻的可靠性應(yīng)與固定金屬化（薄膜電阻）薄膜電阻型號(hào)歸為同一組。

SMD 熱敏電阻消除了一些與敏感引線端子相關(guān)的問(wèn)題。一開(kāi)始存在一些可焊性問(wèn)題，但今天它們可能被視為已克服。我們現(xiàn)在有一個(gè)在結(jié)構(gòu)上類(lèi)似于陶瓷片式電容器的組件，但誤差源更少。分層低電阻變體將其電極嵌入材料中，并且從可靠性方面來(lái)看，可以與均質(zhì)類(lèi)型相媲美。

核輻射

對(duì)中子、β 和 γ 輻射形式的放射性輻射進(jìn)行的測(cè)試表明，熱敏電阻能夠承受高強(qiáng)度而不會(huì)對(duì)特性產(chǎn)生任何影響。